SPC是(Statistical Process Control)的缩写;

中文意思为"统计制程管制"(台湾称法)

"统计过程控制"(大陆称法)

是利用统计学的原理,对制造业在制程中的品质进行

管制,以达到尽可能第一次把品质做好.(可以应用

到任何一个有大量数据产生的地方,如财务分析等)

1924年美国休哈特发明管制图;

二战期间,美国军方提出MIL—STD—105E和

MIL—STD—414(抽样计划)

二战结束后,戴明到日本指导品质,得以广泛应用.

SPC的功能

看清品质状况,提前发现问题

找出问题根源,少花钱办好事

减少报表麻烦,满足客户要求

提升生产效力,降低品质成本

SPC的主要内容

计数值

以计产品的不良件数或点数的表示方法,

数据在理论上有不连续的特性,故称之为离型变量;

抽样计划采用每批抽取样本,如MIL—STD—105E(GB2828)

计量值指产品须经过实际量测而取得的连续性实际值,并对其做数理分析,以说明该产品在此量测特性的品质状况的方法.

抽样计划采用每固定时间抽取4—20个样本量测,如MIL—STD—414

(GB6378)

基本资料

设定

计数值

数据输入

计量值

数据输入

普通管制

分析

PPM/

不良推移

单品质

特性图

多品质

特性图

表尾资料设定

量测单位设定

层别条件设定

连接仪器设定

栓验作站设定

缺点代码设定

缺点类别设定

产品类别设定

产品资料设定

制程能力分析图

CPK推移图

a Chart 制程式标准差分析图

sChart 规格标准差分析图

K Chart K 倍标差管制图

Histogram Chart 直方图

Median-R Chart 中位数全距管制图

X-Rm Chart 个别值与全距管制图

Xbar-S Chart平均数标准差管制图

Xbar-R Chart平均数全距管制图

柏拉图

U-Chart单位缺点数管制图

C-Chart缺点数管制图

NP-Chart不良数管制图

P-Chart不良率管制图PPM推移

图

不良率推移图

多品质特性图

SPC架构

特殊原因与一般原因

特殊原因是指由于制程中某一个小部位的突发变异产生问

题,难以预料,只有一经发现,由现场人员立即判断并处理.不在统计制程管制下.

由偶然因素产生,事先无法预测.

一般原因是指由目前整体因素变异产生的问题,可以预测,问题要由各相关部门协助共同解决.制程中变异因素在统

计的管制之下,产品特性有固定分布.成功推行SPC的条件

最高管理层的大力支持;

中层干部有能力分析各种SPC图形,在有良好品质观念的础上及时分析图形;

做一份详尽,全面,系统的SPC系统规划;

建议用专业软件来做;

数据收集要真实,适时

SPC运作的重点与难点

相关人员的教育训练;

全面的一个系统规划;

适时收集数据;

适时监控图形;

问题改善;

形成标准.

全厂SPC系统规划,

如各部门的抽样计划图形分析,还要能正确地分析和判断出品质状况;

找到改善方案;

形成书面措施

第二篇图形制作技术

数据收集;

各项品质指标;

Xbar-R平均数全距管制图

P-Chart不良率管制图

NP-Chart不良数管制图

U-Chart 单位缺点数管制图

CPK推移图等等

计量值数据收集——主要对产品的重要特性按一定时间间隔抽取一定的样本,然后

进行量测,再将量测值做处理.

每次抽样数大部份产

品采用5-20

管制点一般为设计时

设定的重要特性或客

户要求的重要尺寸

各项层别条件数据条件项目抽样频率一般为每2

小时或4小时

时间段选择产品相关项目MIL-STD-414

和GB6378

数据筛选数据收集项目抽样计划

统计学基本概念与基本理论

一组距

一组数据中的最大值减去最小值

R=MAX—MIN

作用:可以看出这组数的精密度,并

判断出这组数据的制程幅度有多大.

二平均数(Mean,常用Xbar或X表示)

把一组数据全部相加,再除以该组数据的个数.

X=(X1+X2+……Xn)/n

注意:平均数的小数字数一定要取到比样本数 小数

字数多一位.

三中位数(Median,用M表示)

把一组数据先按大小顺序排列起来,然后取最中间一位.

若该组数据为奇数,则取最中间一位,若该组数据为偶

数,

则取中间两位的其中一位.

如:数据X1,X2,X3……Xn是按从大到小顺序排列,

则:

X(n+1)/2(n为奇数)

M= 或

X(n/2)或X(n/2+1)

四方差(

2

,有时用S表示)

由该组数据中每个数据减实际平均数平方的和

再除以该数组数据的个数(n).

∑(Xi—Xbar)

2

n—1

注:有些书上可能是除以n(样本数在50以下时),

方差越小越好

2

=

五标准差(S)

直接由方差开平方得来.

S= =√(∣X1—X∣

2

+∣X2—X∣

2

+……+∣Xn—X∣

2

)/n—

1

注:有些书上直接使用n.

在SPC软件中,有两种标准差,一个是规格标准( s),另

一个制程标准差( a).

a是统计学上的标准差概念,由上述公式计算得来;

s是品管中为便于比较而引进的,计算方法为:

s=(USL—LSL)/6

管制界限

管制中心线(CL),是实际数据的

平均值(即CL=Xbar);

管制上限(UCL),Xbar+ 3 ;

管制下限(LCL),Xbar—3 ;

注意:如管制上下限都在规格上下限之间,表明制程能力很好,生产能力在管制范围之内,很少甚至没有不符合规格的产品.若超出或偏离规格上下限,表明制程有问题,有可能出现不良品.

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文章来源：天狐定制

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